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单选题

儿童期高热惊厥的发作数、持续时间和智力低下程度的关系是(  )。

发布日期:2021-11-23

儿童期高热惊厥的发作数、持续时间和智力低下程度的关系是(  )。
A

负相关

B

几何级数比例

C

正相关

D

没有关系

E

对数关系

试题解析

持续时间

时间区间的端点之差。——引自DL/T 861-2004 《电力可靠性基本名词术语》

中文名
持续时间
所属学科
电力系统
外文名
time duration

智力障碍

智力障碍(简称:智障)(MR)又称智力缺陷,一般指的是由于大脑受到器质性的损害或是由于脑发育不完全从而造成认识活动的持续障碍以及整个心理活动的障碍。 由于遗传变异、感染、中毒、头部受伤、颅脑畸形或内分泌异常等有害因素造成胎儿或婴幼儿的大脑不能正常发育或发育不完全,使智力活动的发育停留在某个比较低的阶段中,称为智力迟滞。由于大脑受到物理、化学或病毒、病菌等因素的损伤使原来正常的智力受到损害,造成缺陷,则称痴呆。

常见病因
遗传变异,感染,中毒,头部受伤,颅脑畸形,内分泌异常等
又称
智力缺陷,智能障碍
常见症状
脑不能正常发育、发育不完全,智力活动的发育停留在某个比较低阶段中

作数

作数,是一个汉语词汇,拼音zuòshù,释义为说话能兑现。

中文名
作数
外文名
be valid;make good;count

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