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250pf
若设备组件之一的绝缘试验值为tgδ1=5%,C1=250pF;而设备其余部分绝缘试验值为tgδ2=0.4%,C2=10000pF,则设备整体绝缘试验时,其总的tgδ值与()接近
某高压电气设备测量的介质损耗因数tgδ结果如下:有缺陷部分C1=250PF,tgδ1=5%;良好部分C2=10000PF,tgδ2=0.4%。两部分并联后,整体的tgδ与()接近。