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单选题

GB/T7233-87标准规定;探伤面上进行扫查时,相邻两次扫查应相互重叠为约晶片尺寸的()

发布日期:2021-08-19

GB/T7233-87标准规定;探伤面上进行扫查时,相邻两次扫查应相互重叠为约晶片尺寸的()
A

10%

B

15%

C

20%

D

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