移动端

  • 题王微信公众号

    题王微信公众号

    微信搜“题王网”真题密题、最新资讯、考试攻略、轻松拿下考试

问答题

为什么要求透射电子显微镜的试样非常薄,而扫描电子显微镜无此要求?

发布日期:2020-12-11

为什么要求透射电子显微镜的试样非常薄,而扫描电子显微镜无此要求?

试题解析

透射电子显微镜

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。TEM的分辨力可达0.2nm。

中文名
透射电子显微镜
别名
透射电镜
发明人物
E.Ruska
外文名
Transmission Electron Microscope
简称
TEM

试样

试样是指按试验目的,将试样经过加工制成可供试验的样品。

中文名
试样
类别
力学与工程
外文名
specimen

扫描

扫描,指通过电子束、无线电波等的左右移动在屏幕上显示出画面或图形。

中文名
扫描
性质
科学技术
产生
电子设备
产生射线
X射线
外文名
scan;scanning;
常用
ct等
作用
复制记忆

题王网让考试变得更简单

扫码关注题王,更多免费功能准备上线!

此试题出现在

大学试题

理学

去刷题
热门试题热门资讯 相关试题

暂无相关推荐~