多选题
以下关于可测性设计的描述中，哪些是正确的（）。
发布日期：2020-12-11
可测性设计就是在设计阶段考虑测试因素，牺牲一部分芯片面积换得测试的容易化
可测性设计使用自动生成工具（ATPG），易于生成故障覆盖率高的测试模式
可测性设计由于增加了设计负荷，将一定导致芯片整体开发成本的增加
可观察性与可控制性是衡量可测性设计的两个尺度
试题解析
可测性设计
可测性设计(design for testability，DFT)是在微电子芯片产品设计中加入了先进的测试设计，使得所涉及芯片的制造测试、开发和应用变得更为容易和便宜。
- 中文名
- 可测性设计
- 所属学科
- 电子技术
- 原理
- 转变测试思想
- 外文名
- design for testability
- 简称
- DFT
- 目的
- 实现电路可测量性、可控制性等
正确
正确，哲学名词，谓符合事实﹑规律﹑道理或某种公认的标准。与“错误”相对。
- 中文名
- 正确
- 词性
- 名词
- 外文名
- correct
- 拼音
- zhèng què
描述
描写，运用各种修辞手法对事物进行形象化的阐述。包括的修辞手法有比喻、拟人、夸张、双关、排比等，可以描述人，也可以描述物，通过描述可以让人或物形象更生动具体，给人明了的感受。
- 中文名
- 描述
- 拼音
- miáo shù
- 外文名
- describe
- 释义
- 描写
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此试题出现在
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